プラント保温材下腐食(CUI)の管理・設計・検査

2019年9月テクノシステム開催セミナーのお知らせ
東京・大阪・福岡同時開催
プラント保温材下腐食(CUI)の管理・設計・検査
 産業プラントの多くは、設備の経年化に伴い機器や配管の断熱下外面腐食(CUI)対策が課題となっています。CUI点検方法としては、保温材を撤去して目視により外観点検する方法が主流で、保温材の撤去・復旧やこれらの作業を行うための広範囲な仮設足場の設置が必要となり、付帯工事費が多大である。「最少の付帯工事で検査することが出来ないか」とのニーズは高まっています。
本セミナーでは高経年プラントの設備管理、保温材下腐食の特徴と予測、設計とニーズ及び検査技術開発状況について解説いたします。
※ 講演者は東京会場で講演いたしますので、大阪・福岡会場は中継での受講となります。
※ 講演者への質問は大阪・福岡会場からも可能です。
講師 長谷川 勝宣 氏  (出光興産)
中原 正大 氏   (旭化成)
津田 崇弘 氏   (日揮)
三浦 到 氏    (三菱ケミカル)
日時 2019年9月25日(水)13:00~17:30
会場 ■ 東京会場 日工セミナルーム東京(東京都文京区本駒込6-3-26 日本工業出版ビルB1)
■ 大阪会場 日工セミナルーム大阪(大阪市中央区平野町1-6-8 メロディーハイム1F)
■ 福岡会場 リファレンス博多駅東ビル(福岡市博多区博多駅東1-16-14)
※ お申し込みの際、どちらの会場での受講をご希望か、備考欄にご記入ください
定員 東京会場24名 大阪会場16名 福岡会場12名
受講料 32,400円 税込(テキスト含む)※3名以上ご参加の場合お一人27,000円
主催 日本工業出版株式会社 月刊「配管技術」、月刊「検査技術」
共催 株式会社テクノシステム
13:00~14:00 長谷川 勝宣 氏  (出光興産)
プラント配管の高経年化に対する設備管理
配管の設備管理マネジメントについて、石油精製プラントでの例を中心に、設備管理上の配管の特性、業界での取り組み事例や検査技術の活用など含めて高経年化対応の取り組みを紹介する。
14:10~15:30  中原 正大 氏  (旭化成)
プラントデータに基づく保温材下腐食の特徴とその予測
化学会社より設備使用条件やCUI検査結果のデータを収集、解析し、CUIの発生要因の定量的特徴、非破壊検査とCUIの対応、およびCUI発生予測モデルについて検討した結果を紹介する。
15:40~16:30 津田 崇弘 氏  (日揮)
プラント設計における保温材下腐食対策の動向
CUIへの認識がプラントオーナーに拡がったことに伴い、新設プラントの設計時からCUI対策が求められるようになってきた。ここでは、設計時に考慮する要素や対策方法をまとめながら、それらの動向について紹介する。
16:40~17:30  三浦 到 氏  (三菱ケミカル)
配管保温材下外面腐食検査の合理化も目指した技術開発
検査対象が膨大かつ高所設置も多い配管CUI検査はコスト、労力面など難題が多い。合理化を目指し、産官学連携体制を構築し取り組んだセンサー、ロボット開発を紹介する。
※ プログラムは都合により変更することがありますのでご了承下さい。
会場のご案内
東京会場 日工セミナルーム東京
東京都文京区本駒込6-3-26 日本工業出版ビルB1
東京都文京区本駒込6-3-26
大阪会場 日工セミナルーム大阪
大阪市中央区平野町1-6-8 メロディーハイム1F
大阪市中央区平野町1-6-8
福岡会場 リファレンス博多駅東ビル
福岡市博多区博多駅東1-16-14
福岡市博多区博多駅東1-16-14
お申し込み・お問い合わせ方法

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